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      電子郵箱:zhangguowei_gto@shanghuish.com

      商輝自動化設備(上海)有限公司

      電話:021-51870926

      三豐輪廓粗糙度儀SV-C3200
      三豐輪廓粗糙度儀SV-C3200
      產品詳情

      大幅提高的驅動速度(X軸:80mm/s,Z2軸立柱:30mm/s)進一步減少了總的測量時間。

       

      為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌;

       

      驅動器(X軸)和立柱(Z2軸)均配備了高精度線形編碼器(其中Z2軸上為ABS型)。因此,在垂直方向對小孔連續自動測量、對較難定位部件的重復測量的重復精度得以提高。

       

      輪廓測量技術參數:

       

      X軸

       

      測量范圍:100mm或200mm

       

      分辨率:0.05μm

       

      檢測方法:反射型線性編碼器

       

      驅動速度:80mm/s、外加手動

       

      測量速度:0.02-5mm/s

       

      移動方向:向前/向后

       

      直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm *以X軸為水平方向上

       

      指示精度(20°C時):±(0.8+0.01L)μm(SV-C3200S4,H4,W4) (SV-C4500S4,H4,W4)

       

      ±(1+0.02L)μm(SV-C3200S8,H8,W8) (SV-C4500S8,H8,W8) *L為驅動長度(mm)

       

      傾角范圍:±45°

       

      Z2軸(立柱)

       

      垂直移動:300mm或500mm

       

      分辨率:1μm

       

      檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

       

      驅動速度:0-30mm/s、外加手動

       

      Z1軸(檢測器)

       

      測量范圍:±30mm

       

      分辨率:0.04μm(SV-C3200),0.02μm(SV-C4500)

       

      檢測方法:圓弧光柵尺

       

      指示精度(20°C時):±(1.6+I 2H I/100)μm(SV-C3200)

       

      ±(0.8+I 2H I/100)μm(SV-C4500) *H:基于水平位置的測量高度(mm)

       

      測針上/下運作:弧形移動

       

      測針方向:向上/向下

       

      測力:30mN

       

      跟蹤角度:向上:77°,向下:83°

       

      (使用配置的標準測頭,依表面粗糙度而定)測針針尖尖端半徑:25μm、硬質合金尖端

       

      表面粗糙度測量的技術參數:

       

      X1軸

       

      測量范圍:100mm或200mm

       

      檢測方法:線性編碼器

       

      驅動速度:80mm/s

       

      移動方向:向后

       

      直線度:(0.05+L/1000)μm(S4,H4,W4型)

       

      0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)

       

      Z2軸(立柱)垂直移動:300mm或500mm

       

      分辨率:1μm

       

      檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

       

      驅動速度:0-30mm/s、外加手動

       

      檢測器

       

      范圍/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm(2400μm使用測頭選件)

       

      檢測方法:無軌/有軌測量

       

      測力:4mN或0.75mN(低測力型)

       

      測針針尖:金剛石、90o/5μmR(60o/2μmR:低測力型)

       


      熱門標簽:三豐輪廓粗糙度儀SV-C3200
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